GB-T 17024-1997
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ID： |
2EB21D4E8F8D4A788C7330032E2941DB |
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文件大小(MB)： |
0.22 |
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页数： |
12 |
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文件格式： |
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日期： |
2013-7-16 |
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购买： |
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ICS 31.200,L 55 督臀,中华人民共和国国家标准,cB /T 17024一1997,idt IEC 748-2-3:1992,QC 7 90 130,半 导体 器 件集成电路,第 2部 分 :数字集成电路,第三篇HCMOS数字集成电路,54/74HC、54/74HCT、54/74HCU,系X 空 白详 细 规范,Semiconductord evices Integratedc ircuits,Pa rt2 :D igitalin tegratedc ircuits,Se ctiont hree-Blankd etails pecification,fo rH CMOSd igitali ntegratedc ircuits,ser ies5 4/74HC，54/74HCT，54/74HCU,1997一10一07发布1998一09一01实施,国家技术监督局发布,GB/T 17024一1997,前言,本 标准 等 同采用国际电工委员会标准IEC7 48-2-3:1992《半导体器件集成电路第2部分:数字,集成电路第三篇一HCMOS数字集成电路54/74HC,54 /74HCT,5 4/74HCU系列空白详细规范》，以促,进我国该类产品的国际贸易、技术和经济交流,本 标准 引用的国家标准GB/T 4937-1995半导体器件机械和气候试验方法〔idtI EC 749,(1984)〕及修改单10993)和修改单2(1993),本 标 准 由中华人民共和国电子工业部提出,本 标 准 由全国集成电路标准化分技术委员会归口,本 标 准 起草单位:电子工业部东北微电子研究所、电子工业部标准化研究所,本 标 准 主要起草人:王连友、毕思庆、李燕荣,GB/'r 17024一1997,IEC前言,1) I E C( 国际电工委员会)在技术问题上的正式决议或协议，是由对这些问题特别关切的国家委员,会参加的技术委员会制定的.对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见.,2) 这 些 决议或协议，以推荐标准的形式供国际上使用，并在此意义上为各国家委员会所认可,3) 为 了 促进国际上的统一，IEC希望各国家委员会在本国条件许可的情况下，采用IEC标准的文,本作为其国家标准。IEC标准与相应国家标准之间的差异，应尽可能在国家标准中指明,本 标 准 是由SC47A.(集成电路)和IEC TC47(半导体器件)制定的口,本 标 准是 HCMOS数字集成电路54/74HC,54/74HCT,54/74HCU系0i的空白详细规范,本 标 准 文本以下列文件为依据:,六个月法表决报告二个月程序表决报告,47A(CO)190 47A (C0)215 47A (C0)211 47A (C0)241,表决批准本标准的详细资料可在上表列出的表决报告中查阅,在本标准封面的QC编号是IEC电子元器件质量评定体系(IECQ)的规范号,本标准引用下列IEC标准:,68-2-17(1978) 环境试验第2部分:试验— 试验Q 密封,617-12(1991) 图形符号第12部分:二进制逻辑单元,747-10(1991) 半导体器件第10部分:分立器件和集成电路总规范,748-2-2(1991) 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第二篇- HCMOS数字集,成 电 路 54 /7 4H C ,5 4 / 74 HC T ,5 4 / 74 HCU系}Fljl族规范,修 改单 1( 19 94 ),748-11(1990) 半导体器件集成电路第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路),749(1984) 半导体器件机械和气候试验方法,修改 单 1 (1 99 1),QC 0010020986) IEC 电 子 元器件质量评定体系(IECQ) 程序规则,中华人民共和国国家标准,半导 体 器 件集成电路,第 2部 分 :数字集成电路,第三篇HCMOS数字集成电路,54/74HC,54/74HCT,54/74HCU,系 列 空 白 详 细规范,cB /T 17024一1997,idt Ii;C 748-2-3:1992,QC 790130,Semiconductord evices Integrated circuits,Par t2 ,D igitalin tegratedc ircuits,Section three-Blank detail specification,fo rH CMOSd igitalin tegratedc ircuits,ser ies5 4/74HC,54/74HCT,54/74HCU,引言,IEC 电 子 元器件质量评定体系遵循IEC的章程，并在IEC授权下进行工作。这个体系的目的是确,定质量评定程序，使得由一个成员国根据相应规范要求认为合格而放行的电子元器件在所有其他成员,国内不需要再进行检验就能同样地承认其合格,本空 白 详 细规范是与半导体器件有关的一系列空白详细规范之一，并且与下列标准一起使用,IEC 7 47 -10/QC7 0000。半导体器件第10部分:分立器件和集成电路总规范,要求的资料,本页 和 下 页括号内的数字与下列各项要求的资料相对应，应填写在相应的栏中,详细规范的识别,[1」 授 权 发布详细规范的国家标准化机构名称,[2〕 详 细 规范的IECQ编号,[3 〕总 规 范、分规范的编号及版本号,【们 详 细 规范的国家编号、发布日期及国家标准体系要求的其他资料,器件的识别,[5〕 主 要 功能和型号,[6〕 典 型 结构(材料、主要工艺)和外壳资料,如果……
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